商傳媒｜責任編輯／綜合外電報導
為因應人工智慧（AI）與高效能運算（HPC）晶片日益增長的測試需求，半導體測試設備大廠Advantest 今日宣布推出 Pin Scale 5000B 數位測試解決方案。這項新品將擴展其 V93000 EXA Scale 測試平台的效能，旨在解決先進製程節點、異質整合及小晶片（chiplet）架構帶來的複雜度挑戰。
現今 AI 與 HPC 半導體的能力與複雜性正快速提升，需要顯著更高的結構性與功能性測試覆蓋率，並處理快速增加的測試數據量。Pin Scale 5000B 數位測試儀器專為此趨勢設計，大幅擴展可用的向量記憶體，提供深度且可擴展的儲存容量。其軟硬體設計能最佳化小晶片架構中的記憶體使用效率，協助客戶降低整體消耗與相關成本。
根據 Advantest 提供的資訊，Pin Scale 5000B 透過其經過驗證的 Pin Scale 5000 引腳電子架構，提供高達每秒 5 Gb 的高頻寬測試存取數據速率。這項解決方案使客戶能有效擴展其現有的測試程式與硬體配置，並能適應當代的掃描結構架構，以串流方式同時測試多個 IP 核心。此外，新硬體功能允許在單次測試模式執行中觀察多個核心的測試結果，即時掌握錯誤分佈情況，有助於提高結構覆蓋率及核心層級的可視性，大幅縮短測試時間並降低測試成本。
Advantest V93000 產品部門執行長暨部門經理 Ralf Stoffels 指出，隨著 AI 與 HPC 設備不斷挑戰規模與整合的極限，半導體測試解決方案必須同步快速演進。Pin Scale 5000B 在現有 Pin Scale 5000 的基礎上，進一步擴展 V93000 EXA Scale 平台的效能，提供客戶因應裝置複雜性增加所需的效能與可擴展性。
台灣半導體產業在全球晶圓代工與後段封測領域扮演關鍵角色，面對 AI 與 HPC 晶片趨勢，先進測試技術的需求更為迫切。隨著晶片設計採用更多異質整合與小晶片架構，測試複雜度與成本隨之攀升。Advantest 此次推出的新解決方案，預計將對協助台灣半導體供應鏈中的晶圓製造商及測試服務業者，提升高階晶片測試效率與品質產生正面影響。
